Kierunek: Zarządzanie i Inżynieria Produkcji | Tryb: Stacjonarne |
Nazwa modulu: Podstawy metrologii |
Warunki wstępne:Brak wymagań |
Cele kształcenia:Uzyskanie wiedzy z zakresu metrologii procesów przemysłowych, w tym poznanie zasad realizacji pomiarów wielkości nieelektrycznych; |
Efekty ksztalcenia: | Kod efektu kierunkowego: K1ZIP_W01; K1ZIP_W06;K1ZIP_W09;K1ZIP_U06;;K1ZIP_U09; |
EK1: Podstawowe wiadomości nt. pomiarów, przyrządów i metod pomiarowych |
EK2: Umiejętność analizy błędów pomiarowych i oceny niepewności pomiaru |
EK3: Umiejętność prawidłowej realizacji procesu pomiarowego |
Forma i tresci ksztalcenia |
Wykład - Podstawowe informacje dotyczące metrologii, jednostek miar i ich układów. Procesy pomiarowe. ;Ocena dokładności realizowanych pomiarów. Błędy oraz niepewności pomiarowe;Budowa i parametry metrologiczne przyrządów pomiarowych;Mierniki analogowe. Analogowe i cyfrowe sygnały pomiarowe i ich przetwarzanie;Przetworniki analogowo – cyfrowe i cyfrowo-analogowe;Pomiary wielkości nieelektrycznych – stosowane metody i przyrządy pomiarowe;Układy pomiarowe- czujniki, przetworniki, wskaźniki.;Systemy pomiarowe i ich automatyzacja. Aspekty prawne dotyczące metrologii; |
Ćwiczenia - Zasady przedstawiania wyników pomiarów;Określanie błędów pomiarowych;Analiza i określanie niepweności pomiarowych; |
Metody ksztalcenia: Wykład; Ćwiczenia; |
Metody sprawdzania osiągnięcia efektów kształcenia
- ocena podsumowująca: Średnia ocena z wykładu i laboratorium; |
Liczba punktow ECTS: 3 |
Nakład pracy studenta (godz.) : 75 |
Forma zajęc | Liczba godzin według planu studiów |
Wykład | 12 |
Ćwiczenia | 12 |
Autor programu dla modułu kształcenia: dr hab. inż. Januariusz Górecki |
Język modulu: polski |